电容的工作电压，在频率适宜的情况下，一般应不大于额定电压。而瞬时承受电压，即耐电压，按国际国内标准最大检测电压为2倍电压，重复进行耐电压试验对电容器有损伤，因而过高的耐电压超过介质薄膜的承受能力，会损伤介质对电容器也是不利的。经过我们多年的试验，这些潜在的危险，会减少其使用寿命。因而建议客户给出的电容器耐电压指标应不大于2倍。而且在这种情况下，电容器厂家为了更好保证客户使用，还要高于2倍进行内控，但这些余量我们也是靠增加介质厚度来保证的。如果客户就给大于2倍甚至3倍的指标，那我们仍要加严，这样无限制的加下去，对电容器是一种损害，对照明产品也是一种损害，即使当时生产、检测过程中没有体现出来，但是却为日后用户的使用埋下了隐患，这对电容器供应商、照明产品制造商和消费者三方来讲都是不利的，因为我们共同的目标就是满足消费者的使用。
三、如何正确选用电压为1000V-1250V P=10的薄膜电容
在高频、高压、高温的照明电路中，在选用电压为1000V/1250V，容量为1000P-0.015µF脚距P=10系列的电容时，现应有不少设计师依然选用CL11或CBB13结构的电容，这就是目前大量低档节能灯及镇流器存在的主要原因，因为从CL11或CBB13电容的结构上看不是分压结构、无自愈性能，从材料性能上看 CL11更不适合在高频电路中使用、在高频、高压、高温电路上长时间工作时容易造成CL11或CBB13电容自身产生大量热量和电容量大幅衰减，导致电容器在较短时间内失效，这也是很多照明生产厂家想用3倍测试耐电压来挑选所谓好电容的原因吧，但这种做法是不科学，也是徒劳的，甚至会给电容带来更大的隐患，因为从CL11或CBB13电容的结构来看就不是耐高压结构，而不是检测指标高低可决定其性能的，而是设计师的选择出现了问题。
相反如果在照明电路中选用CBB28 P=10的内串式箔式聚丙膜电容器，因其是内串分压式结构，相当于在电路中同一位置有两个电容分担一半的电压，有效的降低了电容自身产生的热量，改善了电路环境，同时CBB28电容又具有良好的自愈性能，提高了电容在电路中的可靠性，所以在选用电压为1000V/1250V， 容量为1000P-0.05µF脚距P=10系列的电容时，一定要选用CBB28 P=10的内串式箔式聚丙膜电容器。切不可因为CL11或CBB13电容可以节省几分钱的成本，而毁掉整个中国照明行业的信誉。
四、同为内串式箔式聚丙膜电容器（CBB28）与（CBB18、CBB81）的区别
电容器的好坏，除用容量、损耗、绝缘、耐压四个基本参数衡量检测外，它的耐脉冲电压冲击和承受电流大小等性能也是需要考虑的。在照明的电路中使用的电容器这两点更需要注意。鉴于这两点性能的考虑，脚距P=10的体积较小的内串式箔式聚丙膜电容器（CBB28）不如脚距P≥15体积较大的箔式内串的聚丙膜电容器（CBB18、CBB81）结构，因为脚距P=10 的CBB28电容内串结构的铝箔宽度为4mm，屏蔽带宽为1mm，而脚距P≥15的 CBB18、CBB81电容内串结构的铝箔宽度为≥6mm，屏蔽带宽为2mm、3mm，耐脉冲电压冲击能力和承受电流强度明显增加。所以只要空间允许，最好使用脚距P≥15的 CBB18、CBB81箔式内串的聚丙膜电容器。
照明电路中常用薄膜电容器及特性对照表:
|
型号 |
CL11 |
CBB13 |
CBB28 |
CBB18 |
CBB81 |
|
结构 |
不分压,铝箔做电极 |
不分压,铝箔做电极 |
内串结构,铝箔做电极 |
内串结构,铝箔做电极 |
内串结构,铝箔做电极 |
|
屏蔽带宽 |
无 |
无 |
1mm |
2mm |
3mm |
|
自愈性能 |
无 |
无 |
有 |
|
额定电压 |
≤630V |
≤630V |
1000V
1250V |
1000V
1250V |
1600V
2000V |
|
脚距（㎜） |
5 |
7.5/10 /15 |
10 |
15 |
≥17.5 |
|
耐电压冲击 |
小 |
小 |
较大 |
大 |
大 |
|
承受电流 |
小 |
小 |
较大 |
大 |
大 |
另外需要提醒照明电器厂家的是：随着技术的的不断进步，现在高温105℃聚丙膜材料已经被电容器生产厂家大量使用，所以照明电器厂家在使用CBB系列电容器时，一定要选择高温105℃的聚丙膜材料。
五、薄膜电容器检测标准，仅供参考：
耐电压： CBB13. CBB18： 2Ur
CBB81. CBB28： 2Ur
CBB21(22). CL21： 1.8Ur
损耗：
|
|
CBB13.CBB18 |
CBB81.CBB28 |
CBB21(22) |
CL21 |
10KHz |
≤0.001 |
≤0.001 |
≤0.001 |
≤0.015 |
绝缘电阻：
CBB类： ≥30000MΩ
CL21： ≥20000 MΩ
CL21X: ≥10000MΩ
绝缘电阻的测试电压：
100V （100≤Ur＜500V）
500V （Ur≥500V）
50V （CL21X）
六、金属化薄膜电容器的自愈性
金属化薄膜电容器的最大特点就是它可以发生自愈，从而提高电容器的可靠性, 金属化薄膜电容器发生自愈有两种情况。
一种是放电自愈(也叫高压自愈)，是发生在电压较高下，假设在两个金属化电极间的有机薄膜中某处有一疵点，它可能是金属性疵点，也可能是半导体或劣质绝缘性疵点。在金属化有机薄膜电容器上施加电压后，立刻有电流通过疵点。使得疵点产生灼热（焦耳热），使金属、半导体或绝缘性疵点的电阻下降，急剧上升的热能将该区域金属化层融化，引起电极间在此处产生飞弧放电，电弧很快蒸发和抛散掉该区熔融金属，形成无金属化层的绝缘隔离区，电弧熄灭，实现自愈。
另一种是电化学自愈（也叫低压自愈），主要是发生在低压电容器上，这是因为金属化镀层在电压很低的情况下逐渐形成的Al2O3绝缘层将疵点覆盖和隔离，从而电容器绝缘电阻大为提高，达到自愈。
所以电容器生产商一定要对金属化薄膜电容器进行赋能，使电容器在一定电压下，进行自愈老练，最大限度消除疵点对电容器影响。（要提醒用户注意的是：现在有些电容器厂将此工序省略了，一道简单的工序，就产生了两种截然不同档次的产品）
七、薄膜电容器的寿命计算
薄膜电容的寿命计算计算方法
依据1：天津大学无线电材料与元件教研室主编《电容器》（技术标准出版社出版）208页6.6.3条款。
依据2：法国波洛莱工艺技术公司《金属化聚丙稀薄膜使用指南》。薄膜电容的寿命计算公式为：
T-T1
V 9 ( )
L1=（ ）× 2 10
V1
L=工作寿命时间
L1=耐久性试验时间
V=额定电压
V1=试验电压
T=工作温度
T1=试验温度
以额定电压为1000V的薄膜电容器为例，耐久性试验电压1.25Ur（国标）为1250V，试验温度105℃，试验时间1000小时。节能灯85℃工作温度，代入公式：
85-105
1000 9 （ ）
L1 =（ ） ×2 10
1250
= 0.134×0.25
= 0.0335（h）等于工作时间1h，
一年为8640h×0.0335，等于试验时间289.44h，产品的耐久性试验是1000h，所以1000h÷289.44=3.45年，也就是说：额定电压为1000V的薄膜电容, 如1000小时的耐久性试验合格的产品，相当于在85℃的工作温度下，额定电压下工作3.45年（相当于29808小时）。
所以电容器生产厂家定期做耐久性试验是非常必要的。
