1、GT110 LED/LED Wafer Optic-Electrical Test System 控制系统采用工业控制计算机架构，搭配分光光谱议量测色度和波长，视函数光探测器量测光强度与一组可精密控制的电压电流电源及数字电压电流表；   
可量测LED的相关光学与电性参数,并可作自动极性判断;GT110之人机接口软件交互性强操作简单;GT110可与任何自动测试分类机联机;提供高稳定精确快速之测试。   
功能特性   
⊙可量测波长 λ=200～1100nm，光强度1v=0～100000mcd CIE视函数探测器   
⊙采用独特的白光量测方法和光学器件，更先进的白光分色技术   
⊙可测试共阴或共阳之任何封装，单脚单晶、双脚双晶、三脚双晶之SMD或Lamp封装   
⊙量测标准可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NEST和Keithley   
⊙可选择积分球、函数光探测器或分光光谱议等光学量测感应装置   
⊙实时CIE坐标图及落点显示   
⊙16位恒流恒压和数字电表量之分辨率   
⊙电性量测电路采用Kelvin法，可避免接触电阻和线阻造成之测量误差   
⊙完善的报表打印和数据统计系统   
⊙全系列LED测试系统解决方案，采用PC-based装置，提供快速灵活之自动测试和人机交互接口   
⊙可用户任意定义之电压电流源值，之测试项目上限与下限，之任意安排量测之输出BIN位   
⊙快捷的分级设定功能   
2、测试规格   
电流-电压量测：   
3、电流源范围：0～200mA   
电源源精度：±0.1%/16位 ±6μA   
电压源范围：0～25V   
电压源精度：…