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已过期 2011/09/29发布
详细说明
紫外泄漏光谱分析系统动态范围宽、杂散光低、测量精度高等特点,适用于对光源和灯具的紫外泄漏测定要求较高的场所。完全符合国际和国内标准要求。
◆ 测量波长:200nm~800nm(特殊可扩展到1100 nm)
◆ 波长精度:±0.1nm
◆ 波长重复性 :±0.05nm(UV), ±0.1nm(VIS)
◆ 测量光谱间隔:1nm, 5nm
◆ 光度线性:±0.3%
◆ 光度重复性:±0.1%
◆ 光通量范围:0.1lm~1.999×105lm(配不同的积分球)
◆ 测光精度:A级
◆ 系统总动态范围:108
◆ 杂散光:≤10-6(紫外光生物防护波段)
◆ 色度坐标精度 :±0.0003
◆ 相关色温测量范围 :1000K~100000K
◆ 相关色温准确度:±0.3%
◆ 显色指数误差or:±(0.3%rd+0.5)
◆ 温度测量范围:0℃~100℃
联系资料
联 系 人:陈志国
联系电话:86-571-88262181
传 真:86-571-88262100
电子邮箱:1729518030@qq.com
联系地址:杭州北部软件园祥园路37号D座
邮政编码:310015
公司站点:www.inventfine.net
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