2.2 测试装置及过程

　　由测试原理可知，本测试分为两个部分：第一部 分测量LED 的K 系数，第二部分根据测得的K 系数 得出LED 工作时的稳态结温，进而计算出热阻值。 2.2.1 K 系数的测试 原理图如图1 所示，将LED 放置在温控的恒温箱内，恒温箱的温度在30-100℃可控，控制精度±1℃， 恒流源精度为±0.1mA。

　　具体测试过程为：

　　(1)将恒温箱温度控制在30℃并将系统稳定30 分钟，使样品与恒温箱热交换充分，以保证样品温度 与恒温箱温度相同;

　　(2)调整恒流源使通过LED 的电流为5mA，待 LED 正向电压降稳定时，记录相应正向压降;

　　(3)将恒温箱温度分别设置为40℃、50℃、60 ℃、70℃、80℃，重复(1)、(2)，并记录各温度下的 正向压降;

　　(4)利用VFT VFO K(T -TO) ，采用最小二乘法 对测试数据拟合，求出K 系数值。

　　2.2.2 LED 芯片结温的测试

　　原理图如图2 所示，图3 是施加到待测器件上的 电流时序图和相应的pn 结正向压降。 具体测试过程为：

　　(1)将恒温箱控制在30℃，待测LED 两端施加 测试电流IM(5mA)，记下此时LED 正向电压VFI，加 热电流IH 设置为200 mA，代替IM 加到LED 两端，待 LED 器件稳态时，测量正向压降VH，并得到耗散功 率PS  IH VH ;

　　(2)将IM 迅速取代IH 加到LED 两端，测得此时 的正向电压VFF;

　　(3)分别设置IH 为250 mA、300 mA、350 mA， 重复(1)、(2)两步;

　　可得到待测LED 的结温和热阻。