聚焦正在起草中的LED寿命预测的IEC规范[1]

　　摘 要：本文介绍IEC TC34/SC34A 正在起草的LED 寿命预测的公共可用规范，包括来自LM-80 的光通维持的测量方法，以及利用平均加速因子预测LED 寿命的方法。本文还给出了LED 加速寿命试验的例子。

　　关键词：LED；LED 寿命；LED 寿命预测；LED 光通维持寿命

　　Abstract: This paper mainly focuses on be in drafted IEC PAS document(publicly available
specification)of LED lifetime prediction by IEC TC34/SC34A, including measuring method
for lumen maintenance prediction from LM-80 and the application of mean acceleration factorto perform LED lifetime prediction. At the same time, further examples for accelerated LEDlifetime tests are provided.

　　Keywords: LED; LED lifetime; LED lifetime prediction; LED lumen maintenance

　　随着LED 技术的持续快速发展,特别材料、封装及热管理技术的提升,以高功率LED 为代表的半导体照明器件近年来得到飞速的发展。LED 光源的长寿命是其一大优势，然而，由于材料制造工艺、封装水平及应用的差异，不同制造商生成的LED 及其产品的光通维持性能可能存在巨大差异，目前国际上仍未形成公认的光通维持率的寿命预测标准方法，导致市场上LED 照明产品质量的混乱，不少制造商宣称的产品性能与实际效果存在较大偏差。这对当前LED 半导体固态照明的产业发展以及提升消费者的信心都是极为不利的。

　　鉴于此，IEC TC 34（国际电工委员会灯和相关设备技术委员会）于2010 年6 月21 日至6 月24 日在芬兰首都赫尔辛基召开了LED 照明产品及相关标准制修订研讨会（LED Workshop），同时还召开了TC 34 各维护工作组会议，包括光源维护工作组会议（MT PRESCO）、灯头和灯座维护工作组会议（MT EPC
1/2/3/4）、灯用附件维护工作组会议（MT COMEX）和灯具维护工作组会议（MTLUMEX）。

　　IEC TC 34 还于2010 年6 月28 日至7 月2 日在德国法兰克福召开DALI 控制装置及相关标准制修订研讨会（DALI Control Devices Workshop），同时还召开光源专家组会议（IEC SC 34A）、灯用附件专家组会议（IEC SC 34C COMEX）和灯具专家组会议（IEC SC 34D LUMEX）。

　　笔者从会上获悉，IEC TC34/SC34A 正在起草《LED-光通维持的检测与预测》的公共可用规范。

　　对于LED 产品，在进行经济的实际时间检测以外，经常声称寿命。因此，一个标准化的光通维持寿命预测的方法被公认为有迫切的市场需求。