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以氧化铝及硅作为LED集成封装基板材料的热阻比较分析[2]

2010-12-30  来源:采钰科技  有4011人阅读

  氧化铝基板及硅基板目前皆已应用于高功率LED的封装,由于LED发光效率仍有待提升,热仍是使用LED灯具上必须解决的重要问题,因此LED导热功能必须仔细分析。要分析导热功能必须使用热阻仪来量测,以下的分析将细分LED封装体结构,包括芯片层,接合层及基板层,来分析每层热阻,分析工具则是目前世界公认最精确的T3Ster仪器。


图3  R公司氧化铝基板的LED封装热阻分析

  图3为T3Ster 热阻仪测试氧化铝基板封装LED( LED area: 1 x 1 mm; LED emitter: 3.15x3.5 mm)) 的结果,在25 oC环境温度下测试时,各封装层的热阻如下:
  1. Chip : 2 oC/W
  2. Bonding layer : 1.5 oC/W
  3. 氧化铝基板 : 4.7 oC/W (氧化铝基板厚度: 400um, 铜层厚度75um)

  当175mA小电流通入下,其基板因热阻温升为4.7 oC; 当电流来到 350mA,基板温升为6.9 oC,当500mA电流通入时,基板温升大约为8.1oC, 及当700mA大电流通入下,基板因热阻温升大约为11oC。

  
当氧化铝基板温升大于8 o C, 此时氧化铝基板会不易将热传导出LED芯片,LED芯片会快速光衰。 LED芯片封装在氧化铝基板,封装组件只适合始使用功率 (~ 350mA, 约 1watt)。


图4  VisEra硅基板LED封装热阻分析

  应用以硅为导热基板的LED封装,如图4所示,在3.37 x3.37 mxm2 的小尺寸面积上,具有快速导热的性能, 可大幅解决因为使用氧化铝造成的高热阻问题。以精密的量测热阻设备 (T3Ster)量测到的热阻值,在25 oC环境温度下测试时,各封装层的热阻如下:
  1. Chip: 1 oC/W
  2. Bonding layer: 1.5 o C/W
  3. Si substrate: 2.5 o C/W

  当大电流 (700 mA) 通入在 1 x 1 mm² 的LED芯片上, 硅基板因热阻的温升为 6. 3 oC (=2.5 x 700mA x 3.6 V),硅基板会快速将热传导出LED芯片,LED芯片只会有小量光衰。 硅藉由优良导热性能将热传导出LED芯片,LED芯片会只会有小许光衰。 因此,LED芯片封装在硅基板上适合于大功率使用( ~700 mA,约 3 W)。 因为硅基板制作及LED封装在硅基板, 技术难度非常高, 目前只有少许公司具备。硅作为LED集成封装基板材料的热阻低于氧化铝基板材料, 应用于大功率时, 硅基板为好的选择。

  
总体LED封装热阻经T3Ster实测结果比较如下:

  LED Si 封装: VisEra : 5 o C/W
  LED氧化铝,E公司 : 25 o C/W
  LED 氧化铝封装,R公司 : 8.2 o C/W

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