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产品详细说明
测量PDP荧光粉在147.0nm、172nm真空紫外辐照激发下的发光光谱功率分布、谱线带宽、峰值波长、发光亮度、色品坐标、颜色纯度和主波长等参数;测量PDP荧光粉的发光余辉波形曲线、有效余辉时间,以及荧光粉在VUV辐照下的光衰特性。
性能指标:
◆ 采用专利技术,快速、简便地测试PDP荧光粉的亮度、色度、余辉等全部光学参数
◆ 可分别测量147nm和172nm单一谱线激发下的发光性能分析PDP的放电与荧光粉匹配参数
◆ 激发光源:模拟PDP像元发光特性的真空紫外放电管
◆ 光谱范围:350nm~800nm(或200nm~800nm)
◆ 余辉时间:0.1ms~1s
◆ 余辉分辨率:0.1ms(可扩展至1μs)
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