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CREE LED (lamp XP-C P3) 光源热性能测试[3]

2010-7-1  来源:中国半导体照明网  作者:LED照明技术总监 房海明  有13287人阅读

  本测试主要针对 CREE 提供之1W 大功率LED (XP-C P3) emitter 光源进行热性能测试,主要测试有: (1) IV曲线测试与电功率测试 ;(2) 结点温度(以下简称为结温)量测 ;(3) LED热阻量测 ;(4) 不同操作温度下光参数性能测试 。相关测试以验证其提供之相关规格,作为光源应用设计依据。

  样品IV曲线测试

  IV曲线测试图 (铜热沉温度Tsink=20ºC)

  电功率曲线测试

  输入电功率与结温变化关系曲线

  在一定测试电流下,电功率随着结温上升而成趋于线性下降;

  输入电功率与结温变化关系曲线

  在不同热沉温度下,结温Tj 随着测试电流 If 增加而线性增加;

 

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